光谱带宽: | UV/Vis:0.1-8nm 8段转换 NIR:0.2-32nm10段转换 |
波长范围: | 165-3300nm |
波长准确度: | |
波长重复性: | |
杂散光: | <0.00005%T以下(340nm,NaNO2);<0.0005%T以下(1420nm,水) |
适用于光学、半导体及FPD应用—岛津UV-VIS-NIR分光光度计
是一款顶级的高灵敏度分光光度计,可进行深紫外区检测,具备大样品室,可满足光学、半导体及FPD在以下方面的检测需求。
FPD:
材料评估中NIR和大样品的高灵敏度测定。
半导体:
短波长激光和12英寸晶片整体表面的深紫外区测定。
光通信:
减反射膜NIR高灵敏度测定。
光学:
从DUV到NIR再到大样品的高灵敏度分析。
高灵敏度
SolidSpec-3700和3700DUV是第一台使用3个检测器的分光光度计:光电倍增管(PMT)探测器检测紫外区和可见光区,近红外区使用InGaAs 和 PbS检测器。InGaAs 和 PbS检测器的使用使得近红外区域的灵敏度显著增强。
深紫外区检测
SolidSpec-3700DUV具有检测深紫外区的能力,可测定至165nm或175nm的积分球。此检测是用氮气吹扫光室和样品室进行的。注: 165nm是SolidSpec-3700DUV使用直接受光单元DDU-DUV测定)的最短波长。
大样品室
大样品室(900W x 700D x 350H mm) 可在不损伤大样品的前提下进行检测。其垂直光路可直接测量大样品同时保持它们的水平状态。使用自动X-Y样品台(选配)测定样品的尺寸是12英寸或310×310mm。
Optional Accessories选配组件
Direct Detection Unit DDU/DDU-DUV (for liquid/solid transmission measurements)直接受光单元DDU/DDU-DUV对于液、固样品透过率测定
自动X-Y样品台(自动测量)
大型镜面反射附件
氮气流量装置
绝对镜面反射附件(5°12°30°45°)
积分球删除样品盘
名称 | 适用行业领域 | 检测样品 | 目标检测物 | 参考标准 |
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工业用氢氧化钠汞含量的测定 | 无机盐 | 工业用氢氧化钠 | 汞 | 工业用氢氧化钠 汞含量的测定 分光光度法 |
工业用异丙苯中过氧化物含量的测定 | 基本有机化工原料 | 工业用异丙苯 | 过氧化物 | 工业用异丙苯中过氧化物含量的测定 分光光度法 |