SGW® X-4 SGW® X-4A SGW® X-4B显微熔点仪
仪电物光 | 中国 | 熔点仪
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测定物质的熔点。主要用于药物、化工、纺织、染料、香料等晶体有机化合物之测定，显微镜观察。既可用毛细管法测定，又可用载玻片-盖玻片法（热台法）测定。
主要技术参数： 熔点测量范围：室温至320℃ 测量重复性：±1℃ （在＜200℃ 时） ±2℃（在20 .0℃ 一320℃ 时）
400-600-6764
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